Analysis of bi distribution in epitaxial gaasbi by aberration-corrected HAADF-STEM

  1. Baladés, N.
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  6. Richards, R.D.
  7. Molina, S.I.
Revista:
Nanoscale Research Letters

ISSN: 1556-276X,  1931-7573

Año de publicación: 2018

Volumen: 13

Número: 1

Tipo: Artículo

DOI: 10.1186/S11671-018-2530-5 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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