Applications of atomic scale scanning transmission electron microscopy

  1. Browning, N.D.
  2. Erni, R.
  3. Mitterbauer, C.J.
  4. Fu, L.
  5. Chi, M.
  6. Mehraeen, S.
  7. Herrera, M.
  8. Chou, H.-T.
  9. Stahlberg, H.
  10. Ramasse, Q.M.
  11. Ziegler, A.
  12. Nicotra, G.
  13. Arslan, I.
  14. Idrobo, J.-C.
  15. Stach, E.A.
  16. Bleloch, A.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276 1435-8115

Any de publicació: 2006

Volum: 12

Número: SUPPL. 2

Pàgines: 134-135

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1017/S143192760606627X GOOGLE SCHOLAR