Applications of atomic scale scanning transmission electron microscopy

  1. Browning, N.D.
  2. Erni, R.
  3. Mitterbauer, C.J.
  4. Fu, L.
  5. Chi, M.
  6. Mehraeen, S.
  7. Herrera, M.
  8. Chou, H.-T.
  9. Stahlberg, H.
  10. Ramasse, Q.M.
  11. Ziegler, A.
  12. Nicotra, G.
  13. Arslan, I.
  14. Idrobo, J.-C.
  15. Stach, E.A.
  16. Bleloch, A.
Zeitschrift:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276 1435-8115

Datum der Publikation: 2006

Ausgabe: 12

Nummer: SUPPL. 2

Seiten: 134-135

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1017/S143192760606627X GOOGLE SCHOLAR