Applications of atomic scale scanning transmission electron microscopy

  1. Browning, N.D.
  2. Erni, R.
  3. Mitterbauer, C.J.
  4. Fu, L.
  5. Chi, M.
  6. Mehraeen, S.
  7. Herrera, M.
  8. Chou, H.-T.
  9. Stahlberg, H.
  10. Ramasse, Q.M.
  11. Ziegler, A.
  12. Nicotra, G.
  13. Arslan, I.
  14. Idrobo, J.-C.
  15. Stach, E.A.
  16. Bleloch, A.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276 1435-8115

Ano de publicación: 2006

Volume: 12

Número: SUPPL. 2

Páxinas: 134-135

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1017/S143192760606627X GOOGLE SCHOLAR