Applications of atomic scale scanning transmission electron microscopy
- Browning, N.D.
- Erni, R.
- Mitterbauer, C.J.
- Fu, L.
- Chi, M.
- Mehraeen, S.
- Herrera, M.
- Chou, H.-T.
- Stahlberg, H.
- Ramasse, Q.M.
- Ziegler, A.
- Nicotra, G.
- Arslan, I.
- Idrobo, J.-C.
- Stach, E.A.
- Bleloch, A.
ISSN: 1431-9276, 1435-8115
Ano de publicación: 2006
Volume: 12
Número: SUPPL. 2
Páxinas: 134-135
Tipo: Achega congreso