Applications of atomic scale scanning transmission electron microscopy

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Revue:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276 1435-8115

Année de publication: 2006

Volumen: 12

Número: SUPPL. 2

Pages: 134-135

Type: Communication dans un congrès

DOI: 10.1017/S143192760606627X GOOGLE SCHOLAR