Comparison of the thickness determined by Fresnel contrast and Rutherford backscattering spectrometry in ultra-thin layers

  1. Ponce, A.
  2. Molina, S.I.
  3. García-López, J.
  4. Battistig, G.
Colección de libros:
Design and Nature

ISSN: 1478-0585

Año de publicación: 2004

Volumen: 6

Páginas: 305-308

Tipo: Aportación congreso

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