Disorder-order phase transformation in a fluorite-related oxide thin film: In-situ X-ray diffraction and modelling of the residual stress effects
- Gaboriaud, R.J.
- Paumier, F.
- Lacroix, B.
Revista:
Thin Solid Films
ISSN: 0040-6090
Año de publicación: 2016
Volumen: 601
Páginas: 84-88
Tipo: Artículo