Study of defects and structural transformations induced by ion irradiation of Y2O3 thin films deposited by Ion Beam Sputtering

  1. Lacroix, B.
  2. Paumier, F.
  3. Jublot, M.
  4. Pacaud, J.
  5. Gaboriaud, R.J.
Actas:
Materials Research Society Symposium Proceedings

ISSN: 0272-9172

ISBN: 9781615677627

Año de publicación: 2008

Volumen: 1122

Páginas: 60-65

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1557/PROC-1122-O09-04 GOOGLE SCHOLAR
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