Vertically stacked CMOS-compatible photodiodes for scanning electron microscopy

  1. Gontard, L.C.
  2. Leñero-Bardallo, J.A.
  3. Varela-Feria, F.M.
  4. Carmona-Galán, R.
Actes:
Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems

ISSN: 0271-4310

ISBN: 9781728133201

Any de publicació: 2020

Volum: 2020-October

Tipus: Aportació congrés

GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus