Vertically stacked CMOS-compatible photodiodes for scanning electron microscopy
- Gontard, L.C.
- Leñero-Bardallo, J.A.
- Varela-Feria, F.M.
- Carmona-Galán, R.
ISSN: 0271-4310
ISBN: 9781728133201
Ano de publicación: 2020
Volume: 2020-October
Tipo: Achega congreso