Structural models for semiconductor As0.20Se0.50Te0.30 glass alloy by X-ray diffraction
- Vázquez, J.
- Villares, P.
- Jiménez-Garay, R.
ISSN: 0022-3093
Año de publicación: 1986
Volumen: 86
Número: 1-2
Páginas: 251-260
Tipo: Artículo
ISSN: 0022-3093
Año de publicación: 1986
Volumen: 86
Número: 1-2
Páginas: 251-260
Tipo: Artículo