Quantification of the influence of TEM operation parameters on the error of HREM image matching

  1. Pizarro, J.
  2. Guerrero, E.
  3. Galindo, P.
  4. Yanez, A.
  5. Ben, T.
  6. Molina, S. I.
Büchersammlung:
MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS
  1. Cullis, AG (coord.)
  2. Hutchison, JL (coord.)

ISSN: 0930-8989,  1867-4941

ISBN: 3-540-31914-X

Datum der Publikation: 2005

Ausgabe: 107

Seiten: 195-198

Kongress: 14th Conference on Microscopy of Semiconducting Materials

Art: Konferenz-Beitrag

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Fuente de los datos: WoS