Quantification of the influence of TEM operation parameters on the error of HREM image matching

  1. Pizarro, J.
  2. Guerrero, E.
  3. Galindo, P.
  4. Yanez, A.
  5. Ben, T.
  6. Molina, S. I.
Colección de libros:
MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS
  1. Cullis, AG (coord.)
  2. Hutchison, JL (coord.)

ISSN: 0930-8989,  1867-4941

ISBN: 3-540-31914-X

Ano de publicación: 2005

Volume: 107

Páxinas: 195-198

Congreso: 14th Conference on Microscopy of Semiconducting Materials

Tipo: Achega congreso

GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: WoS