A method for thin foil thickness determination by transmission electron microscopy

  1. Castro Riglos, M.V.
  2. Tolley, A.
Revista:
Applied Surface Science

ISSN: 0169-4332

Año de publicación: 2007

Volumen: 254

Número: 1 SPEC. ISS.

Páginas: 420-424

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.APSUSC.2007.07.057 GOOGLE SCHOLAR
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