Increasing the Accuracy of the Characterization of a Thin Semiconductor or Dielectric Film on a Substrate from Only One Quasi-Normal Incidence UV/Vis/NIR Reflectance Spectrum of the Sample

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Revista:
Nanomaterials

ISSN: 2079-4991

Año de publicación: 2023

Volumen: 13

Número: 17

Tipo: Artículo

DOI: 10.3390/NANO13172407 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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