Mid-Infrared (MIR) Complex Refractive Index Spectra of Polycrystalline Copper-Nitride Films by IR-VASE Ellipsometry and Their FIB-SEM Porosity
- Márquez, E.
- Blanco, E.
- Mánuel, J.M.
- Ballester, M.
- García-Gurrea, M.
- Rodríguez-Tapiador, M.I.
- Fernández, S.M.
- Willomitzer, F.
- Katsaggelos, A.K.
Revista:
Coatings
ISSN: 2079-6412
Año de publicación: 2024
Volumen: 14
Número: 1
Tipo: Artículo