Projecte d'investigació
MOIF-CT-2006-021423
New methodology for the characterisation of semiconductor self-assambled nanostructures with optoelectronic applications
date_range
Duració del 01 de d’abril de 2006 al 31 de de març de 2009
(36 mesos)
Convocatòria:
3972
Sexto Programa Marco de la Unión Europea. Programas Europeos
