Projet de recherche
MOIF-CT-2006-021423
New methodology for the characterisation of semiconductor self-assambled nanostructures with optoelectronic applications
date_range
Durée de 01 avril 2006 à 31 mars 2009
(36 mois)
Annonce:
3972
Sexto Programa Marco de la Unión Europea. Programas Europeos
