Forschungsprojekt
MOIF-CT-2006-021423
New methodology for the characterisation of semiconductor self-assambled nanostructures with optoelectronic applications
date_range
Dauer von 01 von April von 2006 bis 31 von März von 2009
(36 Monate)
Bekanntmachung:
3972
Sexto Programa Marco de la Unión Europea. Programas Europeos
