Quantitative strain mapping applied to aberration-corrected HAADF images

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Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276,  1435-8115

Año de publicación: 2006

Volumen: 12

Número: 4

Páginas: 285-294

Tipo: Artículo

DOI: 10.1017/S1431927606060363 GOOGLE SCHOLAR
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