Optimization of the graphical method of Swanepoel for characterization of thin film on substrate specimens from their transmittance spectrum

  1. Minkov, D.A.
  2. Gavrilov, G.M.
  3. Moreno, J.M.D.
  4. Vazquez, C.G.
  5. Marquez, E.
Revista:
Measurement Science and Technology

ISSN: 1361-6501,  0957-0233

Año de publicación: 2017

Volumen: 28

Número: 3

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/1361-6501/AA54F6 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus