Electron microscopy study of SiC obtained by the carbonization of Si(111)

  1. Pacheco, F.J.
  2. Sánchez, A.M.
  3. Molina, S.I.
  4. Araújo, D.
  5. Devrajan, J.
  6. Steckl, A.J.
  7. García, R.
Revista:
Thin Solid Films

ISSN: 0040-6090

Año de publicación: 1999

Volumen: 343-344

Número: 1-2

Páginas: 305-308

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/S0040-6090(98)01589-2 GOOGLE SCHOLAR
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