High resolution boron content profilometry at δ-doping epitaxial diamond interfaces by CTEM

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Revista:
Applied Surface Science

ISSN: 0169-4332

Año de publicación: 2018

Volumen: 461

Páginas: 221-226

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.APSUSC.2018.07.097 GOOGLE SCHOLAR
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