XPS analysis and microstructural characterization of a Ce/Tb mixed oxide supported on a lanthana-modified transition alumina

  1. Galtayries, A.
  2. Blanco, G.
  3. Cifredo, G.A.
  4. Finol, D.
  5. Gatica, J.M.
  6. Pintado, J.M.
  7. Vidal, H.
  8. Sporken, R.
  9. Bernal, S.
Revista:
Surface and Interface Analysis

ISSN: 0142-2421

Any de publicació: 1999

Volum: 27

Número: 10

Pàgines: 941-949

Tipus: Article

DOI: 10.1002/(SICI)1096-9918(199910)27:10<941::AID-SIA657>3.0.CO;2-Y GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus