XPS analysis and microstructural characterization of a Ce/Tb mixed oxide supported on a lanthana-modified transition alumina

  1. Galtayries, A.
  2. Blanco, G.
  3. Cifredo, G.A.
  4. Finol, D.
  5. Gatica, J.M.
  6. Pintado, J.M.
  7. Vidal, H.
  8. Sporken, R.
  9. Bernal, S.
Revista:
Surface and Interface Analysis

ISSN: 0142-2421

Ano de publicación: 1999

Volume: 27

Número: 10

Páxinas: 941-949

Tipo: Artigo

DOI: 10.1002/(SICI)1096-9918(199910)27:10<941::AID-SIA657>3.0.CO;2-Y GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus