Electron tomography using compositional-sensitive diffraction contrast for 3D characterization of self-assembled semiconductor quantum dots

  1. Beanland, R.
  2. Hernandez, J.C.
  3. Sanchez, A.M.
  4. Midgley, P.A.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276,  1435-8115

Año de publicación: 2008

Volumen: 14

Número: SUPPL. 2

Páginas: 1052-1053

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1017/S1431927608088107 GOOGLE SCHOLAR
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