Development of algorithm for computer drawing envelopes of interference reflectance spectra for thin film specimens

  1. Minkov, D.A.
  2. Gavrilov, G.M.
  3. Marquez, E.
  4. Ruano, S.M.F.
  5. Stoynova, A.V.
Revista:
Optik

ISSN: 0030-4026

Any de publicació: 2017

Volum: 132

Pàgines: 320-328

Tipus: Article

DOI: 10.1016/J.IJLEO.2016.12.063 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus