Analysis of short-range order and structural model in the glassy semiconductor Ge0.20Sb0.20Se0.60 by X-ray diffraction

  1. Quiroga, I.
  2. Vázquez, J.
  3. Villares, P.
  4. Jiménez-Garay, R.
Revista:
Materials Letters

ISSN: 0167-577X

Any de publicació: 1993

Volum: 17

Número: 6

Pàgines: 333-340

Tipus: Article

DOI: 10.1016/0167-577X(93)90121-D GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus