Analysis of short-range order and structural model in the glassy semiconductor Ge0.20Sb0.20Se0.60 by X-ray diffraction

  1. Quiroga, I.
  2. Vázquez, J.
  3. Villares, P.
  4. Jiménez-Garay, R.
Zeitschrift:
Materials Letters

ISSN: 0167-577X

Datum der Publikation: 1993

Ausgabe: 17

Nummer: 6

Seiten: 333-340

Art: Artikel

DOI: 10.1016/0167-577X(93)90121-D GOOGLE SCHOLAR
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