Porosity in silicon and silica thin films monitored by positrons and positronium

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Büchersammlung:
Materials Science Forum

ISSN: 1662-9752,  0255-5476

ISBN: 9780878499366

Datum der Publikation: 2004

Ausgabe: 445-446

Seiten: 254-258

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.4028/WWW.SCIENTIFIC.NET/MSF.445-446.254 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus