Porosity in silicon and silica thin films monitored by positrons and positronium

  1. Van Veen, A.
  2. Galindo, R.E.
  3. Eijt, S.W.H.
  4. Schut, H.
  5. Van Gog, H.
  6. Balkenende, A.R.
  7. De Theije, F.K.
Liburu bilduma:
Materials Science Forum

ISSN: 1662-9752,  0255-5476

ISBN: 9780878499366

Argitalpen urtea: 2004

Alea: 445-446

Orrialdeak: 254-258

Mota: Biltzar ekarpena

DOI: 10.4028/WWW.SCIENTIFIC.NET/MSF.445-446.254 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus