Porosity in silicon and silica thin films monitored by positrons and positronium

  1. Van Veen, A.
  2. Galindo, R.E.
  3. Eijt, S.W.H.
  4. Schut, H.
  5. Van Gog, H.
  6. Balkenende, A.R.
  7. De Theije, F.K.
Collection de livres:
Materials Science Forum

ISSN: 1662-9752,  0255-5476

ISBN: 9780878499366

Année de publication: 2004

Volumen: 445-446

Pages: 254-258

Type: Communication dans un congrès

DOI: 10.4028/WWW.SCIENTIFIC.NET/MSF.445-446.254 GOOGLE SCHOLAR
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