Quantification of the influence of TEM operation parameters on the error of HREM image matching

  1. Pizarro, J.
  2. Guerrero, E.
  3. Galindo, P.
  4. Yanez, A.
  5. Ben, T.
  6. Molina, S. I.
Colección de libros:
MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS
  1. Cullis, AG (coord.)
  2. Hutchison, JL (coord.)

ISSN: 0930-8989,  1867-4941

ISBN: 3-540-31914-X

Año de publicación: 2005

Volumen: 107

Páginas: 195-198

Congreso: 14th Conference on Microscopy of Semiconducting Materials

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS