Quantitative measurements of the inhomogeneous strain field of stacked self-assembled InAs/InP(001) quantum wires by the Peak Finding Method

  1. Ben, T.
  2. Molina, S. I.
  3. Garcia, R.
  4. Fuster, D.
  5. Gonzalez, M. U.
  6. Gonzalez, L.
  7. Gonzalez, Y.
  8. Kret, S.
Col·lecció de llibres:
MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS
  1. Cullis, AG (coord.)
  2. Hutchison, JL (coord.)

ISSN: 0930-8989,  1867-4941

ISBN: 3-540-31914-X

Any de publicació: 2005

Volum: 107

Pàgines: 299-302

Congrés: 14th Conference on Microscopy of Semiconducting Materials

Tipus: Aportació congrés

GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS