Quantitative measurements of the inhomogeneous strain field of stacked self-assembled InAs/InP(001) quantum wires by the Peak Finding Method

  1. Ben, T.
  2. Molina, S. I.
  3. Garcia, R.
  4. Fuster, D.
  5. Gonzalez, M. U.
  6. Gonzalez, L.
  7. Gonzalez, Y.
  8. Kret, S.
Büchersammlung:
MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS
  1. Cullis, AG (coord.)
  2. Hutchison, JL (coord.)

ISSN: 0930-8989,  1867-4941

ISBN: 3-540-31914-X

Datum der Publikation: 2005

Ausgabe: 107

Seiten: 299-302

Kongress: 14th Conference on Microscopy of Semiconducting Materials

Art: Konferenz-Beitrag

GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS