Defect generation in high In and N content GaInNAs quantum wells: unfaulting of Frank dislocation loops

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Büchersammlung:
Microscopy of Semiconducting Materials
  1. Cullis, AG (coord.)
  2. Hutchison, JL (coord.)

ISSN: 0930-8989

ISBN: 3-540-31914-X

Datum der Publikation: 2005

Ausgabe: 107

Seiten: 139-142

Kongress: 14th Conference on Microscopy of Semiconducting Materials

Art: Konferenz-Beitrag

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Fuente de los datos: WoS