Defect generation in high In and N content GaInNAs quantum wells: unfaulting of Frank dislocation loops

  1. Herrera, M.
  2. Gonzalez, D.
  3. Lozano, J. G.
  4. Hopkinson, M.
  5. Gutierrez, M.
  6. Navaretti, P.
  7. Liu, H. Y.
  8. Garcia, R.
Colección de libros:
Microscopy of Semiconducting Materials
  1. Cullis, AG (coord.)
  2. Hutchison, JL (coord.)

ISSN: 0930-8989

ISBN: 3-540-31914-X

Ano de publicación: 2005

Volume: 107

Páxinas: 139-142

Congreso: 14th Conference on Microscopy of Semiconducting Materials

Tipo: Achega congreso

GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: WoS