Proyecto de investigación
MOIF-CT-2006-021423
New methodology for the characterisation of semiconductor self-assambled nanostructures with optoelectronic applications
date_range
Duración del 01 de abril de 2006 al 31 de marzo de 2009
(36 meses)
Convocatoria:
3972
Sexto Programa Marco de la Unión Europea. Programas Europeos
