Comprehensive (S)TEM characterization of polycrystalline GaN/AlN layers grown on LTCC substrates

  1. Jiménez, J.J.
  2. Mánuel, J.M.
  3. Bartsch, H.
  4. Breiling, J.
  5. García, R.
  6. Jacobs, H.O.
  7. Müller, J.
  8. Pezoldt, J.
  9. Morales, F.M.
Revista:
Ceramics International

ISSN: 0272-8842

Any de publicació: 2019

Volum: 45

Número: 7

Pàgines: 9114-9125

Tipus: Article

DOI: 10.1016/J.CERAMINT.2019.01.250 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus