Comprehensive (S)TEM characterization of polycrystalline GaN/AlN layers grown on LTCC substrates

  1. Jiménez, J.J.
  2. Mánuel, J.M.
  3. Bartsch, H.
  4. Breiling, J.
  5. García, R.
  6. Jacobs, H.O.
  7. Müller, J.
  8. Pezoldt, J.
  9. Morales, F.M.
Revista:
Ceramics International

ISSN: 0272-8842

Ano de publicación: 2019

Volume: 45

Número: 7

Páxinas: 9114-9125

Tipo: Artigo

DOI: 10.1016/J.CERAMINT.2019.01.250 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus