Comprehensive (S)TEM characterization of polycrystalline GaN/AlN layers grown on LTCC substrates

  1. Jiménez, J.J.
  2. Mánuel, J.M.
  3. Bartsch, H.
  4. Breiling, J.
  5. García, R.
  6. Jacobs, H.O.
  7. Müller, J.
  8. Pezoldt, J.
  9. Morales, F.M.
Zeitschrift:
Ceramics International

ISSN: 0272-8842

Datum der Publikation: 2019

Ausgabe: 45

Nummer: 7

Seiten: 9114-9125

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.CERAMINT.2019.01.250 GOOGLE SCHOLAR
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