Comprehensive (S)TEM characterization of polycrystalline GaN/AlN layers grown on LTCC substrates

  1. Jiménez, J.J.
  2. Mánuel, J.M.
  3. Bartsch, H.
  4. Breiling, J.
  5. García, R.
  6. Jacobs, H.O.
  7. Müller, J.
  8. Pezoldt, J.
  9. Morales, F.M.
Aldizkaria:
Ceramics International

ISSN: 0272-8842

Argitalpen urtea: 2019

Alea: 45

Zenbakia: 7

Orrialdeak: 9114-9125

Mota: Artikulua

DOI: 10.1016/J.CERAMINT.2019.01.250 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus