XPS analysis and microstructural characterization of a Ce/Tb mixed oxide supported on a lanthana-modified transition alumina

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Revista:
Surface and Interface Analysis

ISSN: 0142-2421

Año de publicación: 1999

Volumen: 27

Número: 10

Páginas: 941-949

Tipo: Artículo

DOI: 10.1002/(SICI)1096-9918(199910)27:10<941::AID-SIA657>3.0.CO;2-Y GOOGLE SCHOLAR