Analysis of short-range order and structural model in the glassy semiconductor Ge0.20Sb0.20Se0.60 by X-ray diffraction

  1. Quiroga, I.
  2. Vázquez, J.
  3. Villares, P.
  4. Jiménez-Garay, R.
Revista:
Materials Letters

ISSN: 0167-577X

Año de publicación: 1993

Volumen: 17

Número: 6

Páginas: 333-340

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/0167-577X(93)90121-D GOOGLE SCHOLAR
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