Further increasing the accuracy of characterization of a thin dielectric or semiconductor film on a substrate from its interference transmittance spectrum

  1. Minkov, D.
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  3. Angelov, G.
  4. Gavrilov, G.
  5. Ruano, S.
  6. Saugar, E.
Revista:
Materials

ISSN: 1996-1944

Año de publicación: 2021

Volumen: 14

Número: 16

Tipo: Artículo

DOI: 10.3390/MA14164681 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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