Porosity in silicon and silica thin films monitored by positrons and positronium

  1. Van Veen, A.
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  4. Schut, H.
  5. Van Gog, H.
  6. Balkenende, A.R.
  7. De Theije, F.K.
Colección de libros:
Materials Science Forum

ISSN: 1662-9752,  0255-5476

ISBN: 9780878499366

Año de publicación: 2004

Volumen: 445-446

Páginas: 254-258

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.4028/WWW.SCIENTIFIC.NET/MSF.445-446.254 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus