Quantitative measurements of the inhomogeneous strain field of stacked self-assembled InAs/InP(001) quantum wires by the Peak Finding Method

  1. Ben, T.
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  8. Kret, S.
Colección de libros:
MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS
  1. Cullis, AG (coord.)
  2. Hutchison, JL (coord.)

ISSN: 0930-8989,  1867-4941

ISBN: 3-540-31914-X

Año de publicación: 2005

Volumen: 107

Páginas: 299-302

Congreso: 14th Conference on Microscopy of Semiconducting Materials

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS