Defect generation in high In and N content GaInNAs quantum wells: unfaulting of Frank dislocation loops

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Colección de libros:
Microscopy of Semiconducting Materials
  1. Cullis, AG (coord.)
  2. Hutchison, JL (coord.)

ISSN: 0930-8989

ISBN: 3-540-31914-X

Año de publicación: 2005

Volumen: 107

Páginas: 139-142

Congreso: 14th Conference on Microscopy of Semiconducting Materials

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS