Comprehensive (S)TEM characterization of polycrystalline GaN/AlN layers grown on LTCC substrates

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Revista:
Ceramics International

ISSN: 0272-8842

Año de publicación: 2019

Volumen: 45

Número: 7

Páginas: 9114-9125

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.CERAMINT.2019.01.250 GOOGLE SCHOLAR
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