Metal-oxide-diamond interface investigation by TEM: Toward MOS and Schottky power device behavior

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Revista:
Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science

ISSN: 1862-6319,  1862-6300

Año de publicación: 2014

Volumen: 211

Número: 10

Páginas: 2367-2371

Tipo: Artículo

DOI: 10.1002/PSSA.201431178 GOOGLE SCHOLAR
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